Samsung SSD «Wear_Leveling_Count» signifie


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J'ai des SSD Samsung sur mon propre ordinateur portable et sur certains serveurs.

Quand je fais:

smartctl -a /dev/sda | grep 177

J'obtiens des résultats que je ne peux pas comprendre. Voici quelques exemples:

# my laptop Samsung SSD 850 EVO 500GB (new)
ID# ATTRIBUTE_NAME          FLAG     VALUE WORST THRESH TYPE      UPDATED  WHEN_FAILED RAW_VALUE
177 Wear_Leveling_Count     0x0013   100   100   000    Pre-fail  Always       -       0

# server 256 GB, SAMSUNG MZ7TE256HMHP-00000
177 Wear_Leveling_Count     0x0013   095   095   000    Pre-fail  Always       -       95

# server 512 GB, SAMSUNG MZ7TE512HMHP-00000 (1 year old)
177 Wear_Leveling_Count     0x0013   099   099   000    Pre-fail  Always       -       99

# server 512 GB, SAMSUNG MZ7TE512HMHP-00000 (suppose to be new)
177 Wear_Leveling_Count     0x0013   099   099   000    Pre-fail  Always       -       99

# server 480 GB, SAMSUNG MZ7KM480HAHP-0E005
177 Wear_Leveling_Count     0x0013   099   099   005    Pre-fail  Always       -       3

# server 240 GB, SAMSUNG MZ7KM240HAGR-0E005
177 Wear_Leveling_Count     0x0013   099   099   005    Pre-fail  Always       -       11

Une idée comment lire Wear_Leveling_Count?

Certaines valeurs sont au minimum, d'autres au maximum.

Si vous considérez "ordinateur portable" Samsung SSD 850 EVO 500GB, il vaut 0 et passera probablement à 100, puis échouera.

Si l'on considère d'abord le "serveur" 256 GB, SAMSUNG MZ7TE256HMHP-00000, c'est déjà au maximum? Va-t-il descendre à zéro?

Réponses:


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Kingston décrit cet attribut SMART comme suit:

Nombre de cycles d'effacement / programme par bloc en moyenne. Cet attribut est destiné à être un indicateur d'usure imminente. Équation normalisée: 100 - (100 * nombre moyen d'effacements / nombre nominal NAND max de cycles d'effacement)

Ignorez le Raw Datadans ces cas (ils peuvent être manipulés par les fabricants pour fonctionner de différentes manières) et regardez la Current Valuecolonne.

Cette source d' Anandtech nous donne une bonne indication sur la façon d'utiliser cette figure:

La valeur SMART du nombre de niveaux d'usure (WLC) nous donne toutes les données dont nous avons besoin. La valeur actuelle représente l'endurance restante du variateur en pourcentage, ce qui signifie qu'elle démarre à partir de 100 et diminue linéairement au fur et à mesure de l'écriture du variateur. La valeur WLC brute compte les cycles P / E consommés, donc si ces deux valeurs sont surveillées lors de l'écriture sur le variateur, tôt ou tard nous trouverons l'endroit où la valeur normalisée chute d'une unité.

Tous vos disques sont à entre 95 et 100, et finira par tomber à 0. Ceci est une estimation du nombre write, erase, rewriteetc. cycles chaque bloc peut passer avant d' échouer, et en ce moment, un de vos lecteurs est estimé à ont utilisé 5% de sa durée de vie actuelle. Encore une fois, le mot clé ici est estimé.

Notez également que vos disques peuvent utiliser différentes technologies NAND, d'où les différences de durée de vie perçue. Certaines technologies NAND s'attendent à ce que les blocs durent environ 1000 cycles PE chacun, d'autres peuvent être évalués à 30 000.


J'ai joint le tableau "en-tête". Qu'est-ce que la valeur "actuelle"? s'agit-il de la colonne "VALUE"?
Nick

@ Nick Oui, exactement.
Jonno

C'est exactement le contraire de mon expérience. Mes nouveaux disques (Samsung 850 Pro, Samsung 840 Pro) avaient commencé à une valeur brute de 0 et ont augmenté à partir de là. En fait, mon 840 Pro actuel était à 97 il y a environ un mois, et il est maintenant à 99. (Ceci provient de la recherche de données SMART via le logiciel Samsung Magician.)
Granger

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@Granger Avez-vous une colonne "Valeur" ou "Actuelle"? Les valeurs brutes sont généralement du ressort de l'OEM pour décider de ce qu'il en fait et ne sont pas nécessairement des données lisibles. Remarquez dans l'exemple l'OP fourni, la «VALEUR» est 100 et «RAW_VALUE» est 0 pour leur 850 EVO.
Jonno

Ah. Cela a plus de sens si j'ignore complètement la colonne "Valeur brute".
Granger

2

SMART signale une condition PREFAILED pour mon Samsung SM951 (AHCI) 128GB, signalé sous Linux comme SAMSUNG MZHPV128HDGM-00000 (BXW2500Q).

Mais dans mon cas, je pense que c'est un bug du firmware du lecteur,

  • car la total-bytes-writtenpropriété est signalée comme 1,1 To alors que le lecteur a un Total Bytes Written (TBW) spécifié de 75 To! Ce qui est probablement du côté (très) de la sauvegarde, car des disques similaires (MLC NAND) ont tous atteint une multitude de ceux (600 To) dans un véritable test d'endurance ,
  • et en dehors de l' wear_level_countavertissement, aucune autre erreur ou avertissement de préfail ou de vieillissement n'est signalé,
  • tandis que le reallocated-sector-count, qui selon ce test est un bon indicateur de pré-échec, est toujours de 0.

Donc, mon conseil serait d'examiner ces valeurs pour votre lecteur / système et de baser vos conclusions sur cela.

Je préfère l'utilitaire de bas niveau skdumpfourni avec libatasmart, la même bibliothèque que celle utilisée par Gnome Disks .

Utilisez la commande suivante, en remplaçant /dev/sdcpar le chemin d'accès à votre périphérique de bloc:

sudo skdump /dev/sdc

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